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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱：
半導(dǎo)體封裝材料多通道介電測試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號：HTDM-10
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
所在地：北京市
更新日期：2025-09-09
產(chǎn)品簡介：
半導(dǎo)體封裝材料多通道介電測試系統(tǒng)，主要用于：多通道電阻、介電測試等可搭載阻抗分析儀、高阻計使用光耦繼電器，高速又耐用、切換時間 1 ms、高速I/O 輸出控制。
產(chǎn)品特性Product characteristics
| 品牌 | 華測 |
|---|
多通道介電測試系統(tǒng)
型號：HTDM-10
多通道介電測試系統(tǒng)主要用于：多通道電阻、介電測試等可搭載阻抗分析儀、高阻計使用光耦繼電器，高速又耐用、切換時間 1 ms、高速I/O 輸出控制。
基于 IM3570 與 ZC3001 組合的 10 通道交流阻抗測試系統(tǒng)
（發(fā)揮寬頻帶、通道間誤差少的優(yōu)點(diǎn)，與 LCR 多路測試軟件 CN040 組合，可用于多通道介電與電阻測量，也可適用于電子零件和傳感器的研究開發(fā)。）
PC 軟件
LCR 多路測試軟件
掃描、比較器
針對所有通道設(shè)置測試條件（量程、頻率、比較器等）可某個通道的 ON 與 OFF
可循環(huán)進(jìn)行掃描測試
同時可在本地保存測試條件
OPEN&SHORT 補(bǔ)償
可對應(yīng)各通道的開短路補(bǔ)償
如若利用 LCR 的設(shè)置切換功能則需要較長的切換時間，在軟件內(nèi)進(jìn)行了開短路補(bǔ)償計算，可維持高速的掃描時間
數(shù)據(jù)保存
掃描的數(shù)據(jù)可根據(jù)通道進(jìn)行保存
半導(dǎo)體封裝材料多通道介電測試系統(tǒng)
半導(dǎo)體封裝材料多通道介電測試系統(tǒng)
半導(dǎo)體封裝材料多通道介電測試系統(tǒng)
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